而芯(xīn)片(piàn)的另一(yī)端垂直(zhí)豎立(lì)起(qǐ)來(lái),看起(qǐ)來類似墓地(dì)中的立碑(bēi)。
立碑現象(xiàng)還有其(qí)他(tā)原(yuán)因,其中包(bāo)括:
1,焊(hàn)盤設計(jì)不正確(què):
糾正措(cuò)施
1,根(gēn)據(jù)數據(jù)表中指(zhǐ)定(dìng)的建議(yì)設(shè)計焊(hàn)盤(pán)尺(chǐ)寸(cùn)。
另一個現(xiàn)象是OPEN電(diàn)路缺陷。 這發生在芯片的(dí)至少(shǎo)一個(gè)端子(zǐ)和焊盤之間存在電連(lián)續性OPEN電路時。
這(zhè)種(zhǒng)現象非常(cháng)關鍵,因為即使(shǐ)AOI大多數時間(jiān)都(dū)無法檢測(cè)到這種故障。

OPEN電(diàn)路(lù)現象的(dí)根本(běn)原因與立(lì)碑缺陷類似。
深圳市,銘(míng)華(huá)航(háng)電SMT貼(tiē)片加工但是必須考慮其他原因:
1,組件(jiàn)發生氧化。
糾(jiū)正(zhèng)措(cuò)施
1,根據數(shù)據表中指定的建議(yì)設計焊(hàn)盤尺寸(cùn)。